FRITSCH技术。后向散射的简单测量

为了检测直径小于100nm的颗粒，需要测量后向散射光（散射角大于90°）。为此，在ANALYSETTE 22 NeXT Nano中，检测器被特别设置在靠近测量单元的位置。一个同时用于测量正向和侧向散射的绿光激光器被用作光源。在后向探测器的设计中，特别注意抑制不良信号成分，例如，由测量单元玻璃上的反射造成的不良信号。